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電子負載應用于檢測設備測試中
隨著電子市場的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設備也得以廣泛應用。就在LED驅動、電源模塊測試、充電器生產及UPS生產等領域廣泛使用的直流電子負載而言，其已經成為了這些領域必不可少的測試設備。
2012-10-31
電子負載 檢測設備 測試
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如何測試小型存儲器陣列
隨著半導體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉變成數十或數百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實并不是一件容易的事。
2012-10-31
測試 小型 存儲器陣列
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相互調變失真的測量方法
在發(fā)射(Tx)路徑上的相互調變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發(fā)射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調變失真特性被稱為“被動的相互調變失真(passive IMD;PIMD)”。當設計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發(fā)階段就會先測量PIMD。
2012-10-31
相互調變失真 測量方法
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是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設備的泄漏以及外界干擾等。本文重點談談上述五大因素。
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
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VIO的開環(huán)測試電路
輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式。
2012-10-31
VIO 開環(huán)測試電路
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TI推出新型SoC：簡化設計、降低成本
TI推出新型智能電表SoC，可使開發(fā)人員針對智能電子電表應用簡化設計、提高彈性與降低系統成本。它結合3個獨立引擎的完全集成式解決方案，計量引擎可達到0.5%的電表等級準確度，并支持單相或三相電表。
2012-10-31
TI SoC 智能電表
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聚焦新能源汽車與工業(yè)應用 第十二屆高能效設計研討會圓滿結束
在汽車、工業(yè)等領域，低功耗的設計已經不能滿足市場的需求，高效的設計才能讓產品脫穎而出！但是過壓、過熱、系統老化、操作行為的問題層出不窮，怎樣考慮才能獲得高效的設計呢？在第十二屆高能效設計研討會上，TI專家?guī)淼腂MS解決方案，豐寶電子專家?guī)鞱XP最新的MCU解決方案在能源高效利用中的實...
2012-10-31
高能效設計 研討會 新能源
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COG取代LCD，可減少醫(yī)療系統設計成本
液晶顯示器(LCD)在診斷型醫(yī)療中的應用日益頻繁，盡管LCD監(jiān)視器與陰極射線管監(jiān)視器相比具有很多優(yōu)勢，但是(COG)技術是LCD設計的替代方法，在該技術中LCD驅動器直接安裝在顯示玻璃上，可為醫(yī)療應用提供成本和設計優(yōu)勢。
2012-10-31
COG LCD 醫(yī)療
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國內鍺基MOS器件的研究進展
對于高性能的MOS器件而言，良好的界面對于提升MOS器件的遷移率非常重要，由于high-k/Ge的界面穩(wěn)定性較差，在界面處存在的大量的缺陷形成載流子的散射中心，阻礙了高遷移率的獲得，進而嚴重影響器件的最終性能。本文講述了中國科學院微電子研究所在這一方面研究上的顯著進展。
2012-10-31
鍺基 MOS
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