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脈搏測量儀
【導讀】本文主要討論脈搏測量儀電路工作原理 、脈搏測量儀軟件設計、脈搏測量儀安裝與調試 及其解決方案。
2012-10-31
單片機 脈搏 測量
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NI推薦選擇硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)I/O接口
高性能模塊化的I/O接口是構建成功硬件在環(huán)測試系統(tǒng)所必須的。硬件在環(huán)（HIL）測試系統(tǒng)體系結構教程討論了多種硬件在環(huán)測試系統(tǒng)體系結構和用于實現的實時處理技術。本教程討論了多種I/O接口選項，能夠用于實時處理器創(chuàng)建您的硬件在環(huán)測試系統(tǒng)。
2012-10-31
NI 硬件 測試
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電子負載應用于檢測設備測試中
隨著電子市場的發(fā)展，其前景是毋庸置疑的，而與之相輔相生的電子測量儀表儀器設備也得以廣泛應用。就在LED驅動、電源模塊測試、充電器生產及UPS生產等領域廣泛使用的直流電子負載而言，其已經成為了這些領域必不可少的測試設備。
2012-10-31
電子負載 檢測設備 測試
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如何測試小型存儲器陣列
隨著半導體工藝不斷地進步，那些原本存在芯片中的大型存儲器會轉變成數十或數百個小型的存儲器陣列，并且散布在芯片中各個角落。針對這種類型的小型陣列，如果想要偵測出與速度相關的瑕疵以及固定邏輯(stuck-at)故障，其實并不是一件容易的事。
2012-10-31
測試 小型 存儲器陣列
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相互調變失真的測量方法
在發(fā)射(Tx)路徑上的相互調變失真是附加在高功率之中，它的特性很重要。由于在發(fā)射路徑上一般都沒有主動組件存在，因此它的相互調變失真特性被稱為“被動的相互調變失真(passive IMD;PIMD)”。當設計一個無線通信電路時，PIMD在每一個功能單元中的變化不大，所以，在研發(fā)階段就會先測量PIMD。
2012-10-31
相互調變失真 測量方法
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是什么影響電阻和電阻率測試
影響電阻或電阻率測試的主要因素有：環(huán)境溫濕度、測試電壓、測試時間、測試設備的泄漏以及外界干擾等。本文重點談談上述五大因素。
2012-10-31
影響 電阻 電阻率測試 主要因素
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VIO的開環(huán)測試電路
輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡稱比較器)一個重要的電性能參數，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規(guī)定值時，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統(tǒng)測試設備大都采用“被測器件(DUT，Device Under Test)－輔助運放”的測試模式。
2012-10-31
VIO 開環(huán)測試電路
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COG取代LCD，可減少醫(yī)療系統(tǒng)設計成本
液晶顯示器(LCD)在診斷型醫(yī)療中的應用日益頻繁，盡管LCD監(jiān)視器與陰極射線管監(jiān)視器相比具有很多優(yōu)勢，但是(COG)技術是LCD設計的替代方法，在該技術中LCD驅動器直接安裝在顯示玻璃上，可為醫(yī)療應用提供成本和設計優(yōu)勢。
2012-10-31
COG LCD 醫(yī)療
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眾多專家會診新一代電子產品的雷電浪涌保護難題
新一代電子產品都在向小型化、集成化發(fā)展，自然成本也高，對于電子產品的保護就顯得尤為重要，如果你想獲得最前沿、最有效的雷電浪涌防護方案，不妨看看來自Bourns、AEM、歐神防雷、君耀電子、檳城電子以及深波電子的專家在第十三屆電路保護與電磁兼容技術研討會上講解了哪些解決方案與設計訣竅。
2012-10-31
電路保護 電磁兼容 雷電浪涌
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